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    一文详解ADC内部原理

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    发表于 2023-4-3 11:34:22 | 显示全部楼层 |阅读模式

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    本帖最后由 一路上 于 2023-4-3 12:53 编辑

    一、什么是ADC?

    ADC,Analog-to-Digital Converter 的缩写,指模/数转换器或者模数转换 器。是指将 连续变化的模拟信号 转换为 离散的数位讯号的器件 。真实世界的模拟 信号,例如温度、压力、声音或者图像等,需要转换成更容易储存、处理和发射 的数字形式,模/数转换器可以实现这个功能。

    二、AD 转换的过程

    1.png

    1.抗混叠滤波(Anti-aliasing),可以理解为一个低通滤波器
    2.采样保持电路(Sample and hold)
    3.量化 (Quantizer)
    4.编码(Coder)

    三、量化和编码

    模拟信号通过ADC转换成数字信号的这一过程称为量化,由于量化输出的数字信号位数有限,所以输出的数字信号和你采样得到的模拟信号会有一个误差,被称为量化误差,对于一个N位ADC来说,假设其满量程电压为Vref,Vref被ADC分为2N个区间,区间宽度用LSB(last significant bit)表示LSB=Vref/2N。
    例如:Vref=8V,ADC为3位,LSB=1,所以每个区间为1V,
    000代表电压0≤V<1
    001代表电压1≤V<2
    010代表电压2≤V<3
    011代表电压3≤V<4
    100代表电压4≤V<5
    101代表电压5≤V<6
    110代表电压6≤V<7
    111代表电压7≤V<8

    2.png

    此ADC的分辨率为1V

    四、ADC 的分类

    1.逐次比较型 ADC

    基本原理是从高位到低位逐位试探比较,好像用天平称物体,从重到轻逐级增减砝码进行试探。逐次逼近法转换过程是:初始化时将逐次逼近寄存器各位清零;转换开始时,先将逐次逼近寄存器最高位置 1,送入 DIA 转换器,经 DIA 转换后生成的模拟星送入比较器,称为 Vo,与送入比较器的待转换的模拟量 V 进行比较,若 Vo<Vi,该位 1 被保留,否则被清除。然后再置逐次逼近寄存器次高位为 1,将寄存器中新的数字量送 DIA 转换器,输出的 Vo 再与 V 比较,若 Vo<Vi,该位 1 被保留,否则被清除。重复此过程,直至逼近寄存器最低位。转换结束后,将逐次逼近寄存器中的数字量送入缓冲寄存器,得到数字量的输出。

    3.png

    简单说就是开启转换后,将逐次逼近寄存器各位清零(逐次逼近寄存器的位 数取决于 ADC 转换结果的精度),然后再将该寄存器从高到低依次置 1,每次置位完成后 D/A 转换器会将当前 逐次逼近寄存器 的值转换成对应大小模拟量,转换后的模拟量会和待转换的电压进行比较,如果转换后的模拟量大于待转换的电压则该位的值被保留,否则该位将置 0。随后进行低一位的置位、转换、比较过程,到最低位也比较完成。( 逐次比较型 ADC 是先比较高电压 )

    2.双积分式 ADC

    基本原理是将输入电压变换成与其平均值成正比的时间间隔,再把时间间隔转换成数字量,属于间接转换。转换过程是:先将开关接通待转换的模拟量 V,Vi 采样输入到积分器,积分器从零开始固定时间 T 的正向积分,时间 T 到后,开关再接通与 V 极性相反的基准电压 Vref,将 Vref 输入到积分器进行反向积分,直到输出位 OV 时停止积分。Vi 越大,积分器输出电压越大,反向积分时间也越长。计数器在反向积分时间内所计的数值,就是模拟电压 Vi 所对应的数字量,实现了 A/D 转换。

    4.png

    3.全并行/串并行 ADC

    输出的接口如SPI或者并行的,差分或者单端输入的等。

    五、ADC的参数

    1. 分辩率(Resolution) 指数字量变化一个最小量时模拟信号的变化量,定义为满刻度与 2n 的 比值。分辩率又称精度,通常以数字信号的位数来表示。

    2. 转换速率(Conversion Rate)是指完成一次从模拟转换到数字的 AD 转换所需的时间的倒数。 积分型 AD 的转换时间是毫秒级属低速 AD,逐次比较型 AD 是微秒级属中速 AD,全并行/ 串并行型 AD 可达到纳秒级。采样时间则是另外一个概念,是指两次转换的间隔。为了保 证转换的正确完成,采样速率(Sample Rate)必须小于或等于转换速率。因此有人习惯上将 转换速率在数值上等同于采样速率也是可以接受的。常用单位是 ksps 和 Msps,表示每秒 采样千/百万次(kilo / Million Samples per Second)。

    3. 量化误差(Quantizing Error) 由于 AD 的有限分辩率而引起的误差,即有限分辩率 AD 的阶梯 状转移特性曲线与无限分辩率 AD(理想 AD)的转移特性曲线(直线)之间的最大偏差。 通常是 1 个或半个最小数字量的模拟变化量,表示为 1LSB、1/2LSB。

    4. 偏移误差(Offset Error) 输入信号为零时输出信号不为零的值,可外接电位器调至最小。

    5. 满刻度误差(Full Scale Error) 满度输出时对应的输入信号与理想输入信号值之差。

    6. 微分非线性(Differential nonlinearity,DNL)ADC 相邻两刻度之间最大的差异。

    7. 积分非线性(Integral nonlinearity,INL)表示了 ADC 器件在所有的数值点上对应的模拟值 和真实值之间误差最大的那一点的误差值,也就是输出数值偏离线性最大的距离。

    8. 总谐波失真(Total Harmonic Distotortion 缩写 THD)

    六、SAR ADC内部结构

    常见的微控制器中内置的ADC使用SAR(逐次逼近)原则,分多步执行转换。转换步骤数等于ADC转换器中的位数。每个步骤均由ADC时钟驱动。每个ADC时钟从结果到输出产生一 位。ADC的内部设计基于切换电容技术。下面的图介绍了ADC的工作原理。下面的示例仅显示 了逼近的前面几步,但是该过程会持续到LSB为止 SAR切换电容ADC的基本原理(10位ADC示例)

    带数字输出的ADC基本原理图

    5.png

    采样状态

    采样状态:电容充电至电压 VIN 。 Sa 切换至 VIN ,采样期间 Sb 开关闭合。

    6.png

    保持状态

    保持状态:输入断开,电容保持输入电压。 Sb 开关打开,然后 S1-S11 切换至接地且Sa切换至 VREF 。

    7.png

    逐次逼近

    1、第一个逼近步骤。S1切换至VREF。VIN与VREF/2比较。

    8.png

    2、如果MSB = 0,则与?VREF进行比较,S1切换回接地。S2切换至VREF。

    9.png

    3、如果MSB = 1,则与?VREF进行比较,S1保持接地。S2切换至VREF。

    10.png

    重复如上步骤,直到LSB为止。

    可以简单理解为二分法逐次进行输入电压与参考电压的比较。首次于VREF/2比较,下次比较根据上次比较结果决定,如果MSB=1则与?VREF比较。如果MSB=0则与?VREF比较。后面决定与1/8VREF 3/8VREF、 5/8VREF、7/8VREF之一做比较。循环直到输出LSB为止。
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